Estado: nuevo

Accesorios incluidos :
Forma :
Formato : Papel
Es formato bolsillo :
Margarita :
Código Margarita :
Autor : Eishi H. Ibe
Cantidad de libros por set :
Colección del libro :
Tapa del libro : Dura
Material de la tapa del libro :
Edición del libro :
Género del libro : Ingeniería
Editorial del libro : John Wiley Sons Ltd
Serie :
Subgéneros del libro : Tecnología e ingeniería
Subtítulo del libro :
Título del libro : Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Volumen del libro : 1
Marca : John Wiley Sons Ltd
Color de la portada :
Coautores :
Altura :
Código IBIC :
Impuesto interno : 0 %
Es kit : No
Escrito en imprenta mayúscula : No
Condición del ítem : Nuevo
Idioma : Inglés
Tamaño de la letra :
Edad mínima recomendada : 0 años
Modelo : Eishi H. Ibe
MPN : 9781118479292
Tipo de narración : Libro
Altura del paquete :
Largo del paquete : 20 cm
Peso del paquete :
Ancho del paquete :
Cantidad de páginas :
Año de publicación :
SKU : 9781118479292
Traductores :
IVA : 0 %
Peso : 590 g
Ancho :
Con realidad aumentada : No
Con páginas para colorear : No
Con índice :
Con cierre : No